Empyrean RCExplorer

　　寄生效应对电路性能带来的问题在当代复杂IC设计中变得更具有挑战性，尤其是在65纳米及以下工艺。寄生参数提取精度直接影响芯片实测性能与后仿的偏差。此外，可靠性相关的EM/IR-drop问题也对高精度高速的寄生参数提取工具提出挑战。 
　　Empyrean RCExplorer™ 可在纳米级标准单元设计中进行单元级的寄生参数提取，也可以利用Empyrean Argus™进行晶体管级的寄生参数提取。 同时，RCExplorer可提供基于版图和网表的点到点寄生参数和时延的快速分析，可以广泛应用于版图编辑、后仿debug、PG分析、Rds(on)分析和ESD分析等应用，提供给用户快速准确的寄生参数分析优化解决方案。