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大容量寄生参数提取分析工具

Empyrean RCExplorer

  寄生效应对电路性能带来的问题在当代复杂IC设计中变得更具有挑战性,尤其是在65纳米及以下工艺。寄生参数提取精度直接影响芯片实测性能与后仿的偏差。此外,可靠性相关的EM/IR-drop问题也对高精度高速的寄生参数提取工具提出挑战。 
  Empyrean RCExplorer™ 可在纳米级标准单元设计中进行单元级的寄生参数提取,也可以利用Empyrean Argus™进行晶体管级的寄生参数提取。 同时,RCExplorer可提供基于版图和网表的点到点寄生参数和时延的快速分析,可以广泛应用于版图编辑、后仿debug、PG分析、Rds(on)分析和ESD分析等应用,提供给用户快速准确的寄生参数分析优化解决方案。

 

 

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