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数字寄生参数提取工具

Empyrean RCExplorer

         随着IC工艺发展,寄生效应对IC设计和Signoff签核都非常关键。寄生参数提取工具根据工艺参数设置对版图中的器件、单元和互连线的寄生电阻电容等参数进行计算,从而提取出包含寄生参数的电路网表,用于电路的各项性能分析和仿真。此外,可靠性相关的EM/IR问题依赖于寄生参数提取工具。同时,在FinFET工艺等更先进工艺条件下如何准确的评估寄生效应,这对寄生参数提取工具提出了新的挑战。   

         华大九天寄生参数提取工具Empyrean RCExplorer®提供了高效准确的Signoff阶段的寄生参数提取方案。工具支持全芯片晶体管级和单元级寄生参数提取,同时具备三维高精度提取和准三维快速提取两种模式。工具内置高精度的场求解器,一方面支撑三维高精度提取模式,另一方面为准三维快速提取模式创建高精度寄生模型,满足准三维快速提取模式的精度要求。工具通过计算高精度的寄生参数,可以帮助用户减少整体设计循环时间,并提高复杂电路的设计质量。

         Empyrean RCExplorer®可集成于全定制设计平台Empyrean Aether®,并提供用于寄生参数反标和分析的Extracted View数据,更好地帮助用户进行前端和后端设计的调试和分析。同时,Empyrean RCExplorer®也紧密集成于模拟电路EM/IR分析工具Empyrean Patron®,提供可靠性分析所需要的后端寄生数据,保证了设计人员进行IR-drop/EM/Thermal等分析验证。

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  • 数字寄生参数提取工具 Empyrean RCExplorer datasheet
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