Empyrean Liberal Mem

         随着工艺在深纳米领域的不断发展，以及消费者对低功耗移动设备的需求增多，特征化库文件的工程需求量也随之急剧增加到数百个PVT工艺角，对工艺偏差建模（LVF库）的需求也随之产生。这种需求在存储器库文件特征化中尤为迫切，因为传统的全电路关键路径仿真的方法已不能满足特征化性能的要求。

         此外,由于存储器的存储单元尺寸不断减小及其灵敏放大器的模拟性质，存储器特征化面临着新的挑战。Empyrean Liberal® Mem创新的机器学习方法能够准确地捕捉存储阵列的仿真行为并无缝集成到整个静态时序分析框架中。

         Empyrean Liberal® Mem是新一代存储器特征化表征工具，可以快速地生成标准库文件和带有LVF格式的库文件。带有LVF格式的库文件是通过仿真局部偏差源，并自动化地在整个电路中传播这种偏差效应来实现的。

         Empyrean Liberal® Mem独立于SPICE仿真器，它可以与流行的商用SPICE和Fast SPICE仿真器紧密集成，进行高性能高精度的存储器特征化建模。另外，Empyrean Liberal® Mem还支持内置电路分析和库质量验证的功能，以保证库文件的准确。